M644晶体管测试仪G01

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什么是晶体管测试仪？晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。

它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

1、工程描述

改制版G01，把之前做的电路放入新外壳，老酒装新瓶。

外壳需要雕刻机加工好几层，建议有需求的小伙伴还是通过3D画图吧。

该版本体积相对小巧轻薄，集成化相对较高较紧凑，主PCB板为4层板得益于JLC免费打样，其他为普通双层板。

2、组装过程

  

3、成品展示

4、电路设计

  

M644晶体管测试仪G01（点击进入立创EDA编辑器打开）

PCB_上层主板_M644晶体管测试仪G01（点击进入立创EDA编辑器打开）

上层主板3D图

PCB_下层主板_M644晶体管测试仪G01（点击进入立创EDA编辑器打开）

下层主板3D图

5、BOM 相关器件(为系统自动匹配，请自行识别验证)

商品编号	型号	品牌	规格/描述
C53706	ATMEGA644PA-AUR	MICROCHIP(美国微芯)	TQFP-44 / MCU
C73334	XL6007E1	XLSEMI(芯龙)	SOIC-8 / DC-DC
C90547	QG-2864KLBLG01	全智景Allvision	1.3寸OLED
C976312	E6E8-2.7C5-12B15	G-Switch(品赞)	开关编码器
C47190	G6K-2F-Y-TR DC5	OMRON(欧姆龙)	信号继电器

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工程附件

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