以上28款同步整流DCDC电源芯片，我们将逐一进行实测，最后进行综合的横向测评，测评的维度由以下几个方面组成：

1、 资料完整度

2、 标称规格的达标率

3、 性能、规格的适用性

4、 价格

5、 品牌

我们测试采用的PCB如下图所示，这款PCB已在商城上架：https://item.szlcsc.com/352624.html

（商品编号C379995），购买以上28款IC中任意一款时可免费赠送。

对应的原理图、PCB、BOM表、贴片PDF、测试报告都完全开放，对应的BOM还可以一键加入购物车下单。工程师妈妈再也不用担心我的选型测试问题啦。

测试报告正文

前言

这28款的DCDC是市场上比较热门的型号，引脚功能定义基本相同，属于可以Pin To Pin替换的兼容型号。我们为这些IC设计了一款验证PCB，对每一款IC进行焊接并按照统一标准测试，报告总算出炉了。

      免责声明

这份测试报告，应该是市场上第一份针对常用DCDC降压芯片的综合横向测评报告。我们的初衷是期望能提供一份在我们这种局限条件下的测试结果，供大家在选型时辅助参考。这次的测试，仅仅是基于实验室环境对引脚功能兼容的28款DCDC进行最小系统的性能指标测试。由于测试环境、测试设备、测试手段的局限，所以测试结果不代表该IC的实际极限指标。

      实验思路

原理图如图所示

PCB如图所示

PCB实物图如下

PCB链接  https://item.szlcsc.com/352624.html

焊接好的PCB，其中一款

由于IC的最高输入电压不同，最高的有32V，最低的是18V。结合实际使用场景，我们测试时选用了12V作为统一的输入电压，输出电压统一设为3.3V。在室温无其他外加散热条件下进行测试，我们分别测试空载、轻载、重载三种情况下，IC的输出效率、温升情况，纹波情况，下面就让我们来看看这些IC的表现情况吧。

测试设备

测试环境
统一12V电压输入，3.3V/5V输出条件下，空载（0A）、轻载（0.5A）、重载（1.5-2.5A）三种负载情况的输出情况

数据采集项目
1、输入电压实际值
2、三种负载情况下的电压输出值
3、负载情况变化时输入端电流值
4、计算负载变化时输出端的压降
5、不同负载下输出端电压纹波的大小（20M带宽限制）
6、输入输出实际功率以及实际转换效率(若规格书内有转换效率曲线可将标注的效率写上)

7、IC温度值记录


测试流程
1.查看参数表，确定IC型号 核对商品编号、输入电压范围、最大电流等参数
2.测量输入输出端是否短路，确认无误
3.上电，输入电压12V，用万用表测量输出电压是否与预设值一致（3.3V）
4.输出端连接电子负载，确认连线无误
5.打开电子负载，记录空载条件下的数据：实际输入输出电压电流，纹波情况
6.电子负载调至CC（恒流）模式，电流调至0.5A 确认无误后打开电子负载输入开关。记录轻载条件下的各项数据
7.将电子负载CC模式的电流调至1.5-2.5A 并记录重载条件下的各项数据
8.对测试数据做处理，计算各个条件测试下实际的转换效率 以及输出压降  并与规格书标注值做对比

温度测试说明
1.上电并将负载电流调节至待测试电流值
2.打开负载，测试电压值和纹波，并记录初始温度值
3.默认测试IC的持续工作时间为5min，即持续工作5min后再测试温度并记录
4.若IC无法在大电流情况下持续工作太长时间，因温度过高而保护掉电，则记录时间和最终温度值

测试结果

1、纹波情况

请看实拍照片（全部图片请点击查看：DCDC测量纹波照片.pdf）

2、输出效率和温升情况

请查看大图：DCDC测试数据记录表Final.png

      结果分析

从结果来看，纹波情况普遍都差距不大，比较理想。这个也跟我们测试负载比较单一稳定，属于静态负载有关系。在常规应用中，这些IC的纹波水平都可以满足要求，一般不会成为瓶颈。如果是一些比较敏感的应用，比如高精度ADC采集，弱信号处理等方面的需求，建议加强滤波处理，或者是采用LDO等线性电源来降低整体纹波水平。

输出电流的情况，从测试结果上看，出现了比较有趣的情况。部分IC的输出值，在我们这个测试条件下，跟规格书标称的最大值有一些差距。我们分析主要是散热条件造成的原因。

这次的测试，IC引脚虽然是兼容的，但实际也是两种封装，其中一种是SOP8，另外一种是ESOP8，ESOP8封装的IC底部有完整的散热焊盘。由于我们PCB上设计了散热焊盘，因此ESOP8封装的IC，能够比较充分利用PCB的散热条件，在这种状况下，自然输出能力表现就会好一些。

同步整流IC在效率上比非同步整流是有优势的，从测试的数据来看，效率表现基本相差不大。这从规格书上原理框图可以看到，这些IC的内部原理基本相同，效率的差异主要是由内部功率管的内阻和开关频率的差别造成的。

    本次的横向测评到此就告一段落啦，各位朋友如果对哪一些芯片的测试感兴趣，或者是对我们测试方式有更好的思路，欢迎给我们提供意见。